Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Libro 31 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Krstic, Angela; Cheng, Kwang-Ting

ISBN 10: 0792382951 ISBN 13: 9780792382959
Editorial: Kluwer Academic Publishers, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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