Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Springer Okt 2012, 2012

1461375614 / 9781461375616

Serie: Libro 31 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -In the early days of digital design, we were concerned with the logical correctness of circuits. We knew that if we slowed down the clock signal sufficiently, the circuit would function correctly. With improvements in the semiconductor process technology, our expectations on speed have soared. A frequently asked question in the last decade has been how fast can the clock run. This puts significant demands on timing analysis and delay testing. Fueled by the above events, a tremendous growth has occurred in the research on delay testing. Recent work includes fault models, algorithms for test generation and fault simulation, and methods for design and synthesis for testability. The authors of this book, Angela Krstic and Tim Cheng, have personally contributed to this research. Now they do an even greater service to the profession by collecting the work of a large number of researchers. In addition to expounding such a great deal of information, they have delivered it with utmost clarity. To further the reader's understanding many key concepts are illustrated by simple examples. The basic ideas of delay testing have reached a level of maturity that makes them suitable for practice. In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 208 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781461375616

Título
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Autor
Angela Krstic
Editorial
Springer, Springer Okt 2012
Año de publicación
2012
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1461375614
ISBN 13
9781461375616
Peso del artículo
324 gramos
Dimensiones
235x155x12 mm
Serie
Libro 31 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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