Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378

Idioma: inglés

Editorial: Materials Research Society, US, 1995

1558992812 / 9781558992818

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Defect engineering has come of age. That theme is well documented by both the academic and industrial research communities in this book from MRS. Going beyond defect control, the book explores the engineering of desired properties in semiconductor materials and devices through the deliberate introduction and manipulation of defects and impurities. Papers are grouped around ten distinct topics covering materials, processing and devices. Topics include: grown-in defects in bulk crystals; grown-in defects in thin films; gettering and related phenomena; hydrogen interaction with semiconductors; defect issues in widegap semiconductors; defect characterization; ion implantation and process-induced defects; defects in devices; interfaces, quantum wells and superlattices; and defect properties, reaction, activation and passivation.

N° de ref. del artículo LU-9781558992818

Título
Defect and Impurity Engineered Semiconductors and Devices: Volume 378
Autor
I. Akasaki
Editorial
Materials Research Society, US
Año de publicación
1995
Estado
New
Encuadernación
Hardback
Idioma
inglés
ISBN 10
1558992812
ISBN 13
9781558992818
Peso del artículo
1700 gramos

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