Data-driven Detection and Diagnosis of Faults in T. Este artículo no está disponible.
Idioma: inglés
Editorial: Springer, 2020
Serie: Libro 13 de 30 - Lecture Notes in Intelligent Transportation and Infrastructure
- Tapa dura
- Nuevo
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- Título
- Data-driven Detection and Diagnosis of Faults in T
- Autor
- Chen, Hongtian; Jiang, Bin; Lu, Ningyun; Chen, Wen
- Editorial
- Springer
- Año de publicación
- 2020
- Estado
- Brand New
- Encuadernación
- Encuadernación de tapa dura
- Idioma
- inglés
- ISBN 10
- 3030462625
- ISBN 13
- 9783030462628
- Serie
- Libro 13 de 30: Lecture Notes in Intelligent Transportation and Infrastructure
This book addresses the needs of researchers and practitioners in the field of high-speed trains, especially those whose work involves safety and reliability issues in traction systems. It will appeal to researchers and graduate students at institutions of higher learning, research labs, and in the industrial R&D sector, catering to a readership from a broad range of disciplines including intelligent transportation, electrical engineering, mechanical engineering, chemical engineering, the biological sciences and engineering, economics, ecology, and the mathematical sciences.
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