Data Mining and Diagnosing IC Fails

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Jun 2005, 2005

0387249931 / 9780387249933

Serie: Libro 15 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -There are many techniques for analyzing IC fails, but they are scattered over the professional IC test and diagnosis literature, and in various statistics and data mining handbooks. Moreover, many data mining techniques that are standard in other data analysis environments, and that are appropriate for analyzing IC fails, have not yet been employed for that purpose. Data Mining and Diagnosing IC Fails addresses the problem of obtaining maximum information from (functional) integrated circuit fail data about the defects that caused the fails. It starts at the highest level from mere sort codes, and drills down via various data mining techniques to detailed logic diagnosis. The various approaches discussed in this book have a thorough theoretical underpinning, but are geared towards applications on real life fail data and state of the art ICs. This book brings together a large number of analysis techniques that are suitable for IC fail data, but that are not available elsewhere in a single place. Several of the techniques, in fact, have been presented only recently in technical conferences. The purpose of the book is to bring together in one place a large number of analysis, data mining and diagnosis techniques that have proven to be useful in analyzing IC fails. The descriptions of the techniques and analysis routines is sufficiently detailed that professional manufacturing engineers can implement them in their own work environment. 272 pp. Englisch.…

Título
Data Mining and Diagnosing IC Fails
Autor
Leendert M. Huisman
Editorial
Springer US Jun 2005
Año de publicación
2005
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
0387249931
ISBN 13
9780387249933
Peso del artículo
576 gramos
Dimensiones
241x160x20 mm
Serie
Libro 15 de 40: Frontiers in Electronic Testing

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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