Data-Driven Remaining Useful Life Prognosis Techniques: Stochastic Models, Methods and Applications (Springer Series in Reliability Engineering)

Libro 55 de 90: Springer Series in Reliability Engineering

Si, Xiao-Sheng; Zhang, Zheng-Xin; Hu, Chang-Hua

ISBN 10: 3662571730 ISBN 13: 9783662571736
Editorial: Springer, 2018
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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