The Core Test Wrapper Handbook

Idioma: inglés

Editorial: Springer-Verlag New York Inc., US, 2006

0387307516 / 9780387307510

Serie: Libro 14 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

Librería: Rarewaves.com USA, London, London, Reino UnidoRarewaves.com USA

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 11 de junio de 2025

Ver los artículos de este vendedor
Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 208,50

 Gastos de envío gratis 
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.

N° de ref. del artículo LU-9780387307510

Título
The Core Test Wrapper Handbook
Autor
Francisco da Silva, Teresa McLaurin, Tom Waayers
Editorial
Springer-Verlag New York Inc., US
Año de publicación
2006
Estado
New
Encuadernación
Hardback
Idioma
inglés
ISBN 10
0387307516
ISBN 13
9780387307510
Edición
2006 ed.
Serie
Libro 14 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Rarewaves.com USA

London, London, Reino Unido

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 11 de junio de 2025

Tarifas de envío de Reino Unido a Estados Unidos de America

ArtículoDe 9 a 14 días hábilesDe 9 a 14 días hábiles
Primer artículoEUR 0,00EUR 0,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay

Información empresarial del vendedor

RAREWAVES.COM LIMITED

Elsley Court, 20-22 Great Titchfield Street
London, Reino Unido W1W 8BE