Characterization and Metrology for ULSI Technology 2000: International Conference (AIP Conference Proceedings, 550)

ISBN 10: 156396967X ISBN 13: 9781563969676
Editorial: American Institute of Physics, 2001
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa dura

Vendido por ICTBooks, Wichita, KS, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 15 de mayo de 2023

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Bueno

Precio:
EUR 177,37
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito