Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Taylor and Francis Ltd, GB, 2000

075030748X / 9780750307482

Serie: Libro 3 de 5 - Series in Microscopy in Materials Science

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Characterization of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy details the electron microscopy methods used to investigate complex and fine-scale microstructures, such as those produced by fast-particle irradiation of metals or ion implantation of semiconductors. The book focuses on the methods used to characterize small point-defect clusters, such as dislocation loops, because the coverage in general microscopy textbooks is limited and omits many of the problems associated with the analysis of these defects. The book also describes in situ, high-resolution, and analytical techniques. Techniques are illustrated with examples, providing a solid overview of the contribution of TEM to radiation damage mechanisms. The book is most useful to researchers in, or entering into, the field of defect analysis in materials.

N° de ref. del artículo LU-9780750307482

Título
Characterisation of Radiation Damage by Transmission Electron Microscopy
Autor
M.L Jenkins, M.A Kirk
Editorial
Taylor and Francis Ltd, GB
Año de publicación
2000
Estado
New
Encuadernación
Hardback
Idioma
inglés
ISBN 10
075030748X
ISBN 13
9780750307482
Peso del artículo
540 gramos
Serie
Libro 3 de 5: Series in Microscopy in Materials Science

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