CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (eng)

Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Pavlov, Andrei

ISBN 10: 1402083629 ISBN 13: 9781402083624
Editorial: Springer, 2008
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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