CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing (40))

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2010

904817855X / 9789048178551

Serie: Libro 21 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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Título
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies: Process-Aware SRAM Design and Test (Frontiers in Electronic Testing (40))
Autor
Pavlov, Andrei, Sachdev, Manoj
Editorial
Springer
Año de publicación
2010
Estado
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Tipo de libro
book
Encuadernación
Paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
904817855X
ISBN 13
9789048178551
Serie
Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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