Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2023

9811985502 / 9789811985508

Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books

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Título
Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach
Autor
Li, Xiaowei; Yan, Guihai; Liu, Cheng
Editorial
Springer
Año de publicación
2023
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
9811985502
ISBN 13
9789811985508

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