Automated Technology for Verification And Analysis : Third International Symposium, Atva 2005, Taipei, Taiwan, October 4-7, 2005, Proceedings

Peled, Doron A. (EDT); Tsay, Yih-kuen (EDT)

ISBN 10: 3540292098 ISBN 13: 9783540292098
Editorial: Springer, 2005
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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