Automated Technology for Verification and Analysis : 5th International Symposium, Atva 2007 Tokyo, Japan, October 22-25, 2007 Proceedings

Namjoshi, Kedar (EDT); Yoneda, Tomohiro (EDT); Higashino, Teruo (EDT); Okamura, Yoshio (EDT)

ISBN 10: 3540755950 ISBN 13: 9783540755951
Editorial: Springer, 2007
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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