Automated Technology for Verification and Analysis : 17th International Symposium, Atva 2019, Taipei, Taiwan, October 28?31, 2019, Proceedings

Yu-fang, Chen (EDT); Cheng, Chih-hong (EDT); Esparza, Javier (EDT)

ISBN 10: 3030317838 ISBN 13: 9783030317836
Editorial: Springer, 2019
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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