Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Springer US, Springer US Mär 1995, 1995

0306448904 / 9780306448904

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The first U. S. Army Natick Research, Development and Engineering Center Atomic Force/Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium was held on lune 8-10, 1993 in Natick, Massachusetts. This book represents the compilation of the papers presented at the meeting. The purpose ofthis symposium was to provide a forum where scientists from a number of diverse fields could interact with one another and exchange ideas. The various topics inc1uded application of AFM/STM in material sciences, polymers, physics, biology and biotechnology, along with recent developments inc1uding new probe microscopies and frontiers in this exciting area. The meeting's format was designed to encourage communication between members of the general scientific community and those individuals who are at the cutting edge of AFM, STM and other probe microscopies. It immediately became clear that this conference enabled interdisciplinary interactions among researchers from academia, industry and government, and set the tone for future collaborations. Expert scientists from diverse scientific areas including physics, chemistry, biology, materials science and electronics were invited to participate in the symposium. The agenda of the meeting was divided into three major sessions. In the first session, Biological Nanostructure, topics ranged from AFM ofDNA to STM imagmg ofthe biomoleeule tubulin and bacterialluciferase to the AFM of starch polymer double helices to AFM imaging of food surfaces. 468 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9780306448904

Título
Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy
Autor
M. T. Bray
Editorial
Springer US, Springer US Mär 1995
Año de publicación
1995
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
0306448904
ISBN 13
9780306448904
Peso del artículo
863 gramos
Dimensiones
241x160x30 mm

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