Atomic Force Microscopy in Process Engineering: An Introduction to AFM for Improved Processes and Products

Bowen, W. Richard; Hilal, Nidal

ISBN 10: 1856175170 ISBN 13: 9781856175173
Editorial: Butterworth-Heinemann, 2009
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

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