Atom-Probe Tomography

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Aug 2014, 2014

1489974296 / 9781489974297

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography.Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy. The fundamental underlying physics principles are examined, in addition to data reconstruction and visualization, statistical data analysis methods and specimen preparation by electropolishing and FIB-based techniques. A full description of the local electrode atom probe - a new state-of-the-art instrument - is also provided, along with detailed descriptions and limitations of laser pulsing as a method to field evaporate atoms. Valuable coverage of the new ionization theory is also included, which underpins the overall technique. 444 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781489974297

Título
Atom-Probe Tomography
Autor
Richard G. Forbes
Editorial
Springer US Aug 2014
Año de publicación
2014
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
1489974296
ISBN 13
9781489974297
Peso del artículo
828 gramos
Dimensiones
241x160x30 mm

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