Assessing Fault Model and Test Quality

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Springer Okt 1991, 1991

0792392221 / 9780792392224

Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -For many years, the dominant fault model in automatic test pattern gen eration (ATPG) for digital integrated circuits has been the stuck-at fault model. The static nature of stuck-at fault testing when compared to the extremely dynamic nature of integrated circuit (IC) technology has caused many to question whether or not stuck-at fault based testing is still viable. Attempts at answering this question have not been wholly satisfying due to a lack of true quantification, statistical significance, and/or high computational expense. In this monograph we introduce a methodology to address the ques tion in a manner which circumvents the drawbacks of previous approaches. The method is based on symbolic Boolean functional analyses using Or dered Binary Decision Diagrams (OBDDs). OBDDs have been conjectured to be an attractive representation form for Boolean functions, although cases ex ist for which their complexity is guaranteed to grow exponentially with input cardinality. Classes of Boolean functions which exploit the efficiencies inherent in OBDDs to a very great extent are examined in Chapter 7. Exact equa tions giving their OBDD sizes are derived, whereas until very recently only size bounds have been available. These size equations suggest that straight forward applications of OBDDs to design and test related problems may not prove as fruitful as was once thought.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 156 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9780792392224

Título
Assessing Fault Model and Test Quality
Autor
Kenneth M. Butler
Editorial
Springer, Springer Okt 1991
Año de publicación
1991
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
0792392221
ISBN 13
9780792392224
Peso del artículo
407 gramos
Dimensiones
241x160x14 mm

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