Applied Scanning Probe Methods IX

Idioma: inglés

Editorial: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Nov 2010, 2010

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The success of the Springer Series Applied Scanning Probe Methods I-VII and the rapidly expanding activities in scanning probe development and applications worldwide made it a natural step to collect further speci c results in the elds of development of scanning probe microscopy techniques (Vol. VIII), characterization (Vol. IX), and biomimetics and industrial applications (Vol. X). These three volumes complement the previous set of volumes under the subject topics and give insight into the recent work of leading specialists in their respective elds. Following the tradition of the series, the chapters are arranged around techniques, characterization and biomimetics and industrial applications. Volume VIII focuses on novel scanning probe techniques and the understanding of tip/sample interactions. Topics include near eld imaging, advanced AFM, s- cializedscanningprobemethodsinlifesciencesincludingnewselfsensingcantilever systems, combinations of AFM sensors and scanning electron and ion microscopes, calibration methods, frequency modulation AFM for application in liquids, Kelvin probe force microscopy, scanning capacitance microscopy, and the measurement of electrical transport properties at the nanometer scale. Vol. IX focuses on characterization of material surfaces including structural as well as local mechanical characterization, and molecular systems. The volume covers a broad spectrum of STM/AFM investigations including fullerene layers, force spectroscopy for probing material properties in general, biological lms .and cells, epithelial and endothelial layers, medical related systems such as amyloidal aggregates, phospholipid monolayers, inorganic lms on aluminium and copper - ides,tribological characterization, mechanical properties ofpolymernanostructures,technical polymers, and near eld optics. 448 pp. Englisch. …

N° de ref. del artículo 9783642093418

Título
Applied Scanning Probe Methods IX
Autor
Bharat Bhushan
Editorial
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Nov 2010
Año de publicación
2010
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3642093418
ISBN 13
9783642093418
Peso del artículo
674 gramos
Dimensiones
235x155x25 mm

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