Applied Scanning Probe Methods IV. Vol.4

Idioma: inglés

Editorial: Berlin Springer Berlin Heidelberg Springer Feb 2006, 2006

3540269126 / 9783540269120

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 11 de enero de 2012

Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 106,99

Envío por EUR 23,00 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 2 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The Nobel Prize of 1986 on Sc- ningTunnelingMicroscopysignaled a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new - strument for imaging with a p- cision suf cient to delineate single atoms. At rstthere were two the ScanningTunnelingMicroscope,or STM,andtheAtomicForceMic- scope, or AFM. The STM relies on electrons tunneling between tip and sample whereas the AFM depends on the force acting on the tip when itwasplacednearthesample.These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM.TheMFMwillimageasinglemagneticbitwithfeaturesassmallas10nm. WiththeEFMonecanmonitorthechargeofasingleelectron.Prof.PaulHansma atSantaBarbaraopenedthedoorevenwiderwhenhewasabletoimagebiological objects in aqueous environments. At this point the sluice gates were opened and amultitudeofdifferentinstrumentsappeared. There are signi cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM. The probe microscopes do not require preparation of the sample and they operate in ambient atmosphere, whereas, the SEM must operate in a vacuum environment and the sample must be cross-sectioned to expose the proper surface. However, the SEM canrecord3Dimage andmovies, featuresthatarenotavailable withthescanning probes. TheNearFieldOpticalMicroscopeorNSOMisalsomemberofthisfamily.At thistimetheinstrumentsuffersfromtwolimitations;1)mostoftheopticalenergy is lost as it traverses the cut-off region of the tapered ber and 2) the resolution is insuf cient for many purposes. We are con dent that NSOM s with a reasonable opticalthroughputandaresolutionof10nmwillsoonappear.TheSNOMwillthen enterthemainstreamofscanningprobes. VI Foreword In the Harmonic Force Microscope or HFM, the cantilever is driven at the resonantfrequencywiththeamplitudeadjustedsothatthetipimpactsthesampleon each cycle. Theforcesbetween tipandsample generate multiple harmonics inthe motionofthecantilever.Thestrengthoftheseharmonicscanbeusedtocharacterize thephysicalpropertiesofthesurface. 284 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9783540269120

Título
Applied Scanning Probe Methods IV. Vol.4
Autor
Bharat Bhushan
Editorial
Berlin Springer Berlin Heidelberg Springer Feb 2006
Año de publicación
2006
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
3540269126
ISBN 13
9783540269120
Peso del artículo
586 gramos
Dimensiones
235x188x35 mm

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 11 de enero de 2012

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 5 a 15 días hábilesDe 5 a 15 días hábiles
Primer artículoEUR 23,00EUR 23,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • Giro bancario
  • PayPal

Información empresarial del vendedor

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Alemania

BuchWeltWeit Inh. Ludwig Meier e.K.
Inhaber: Ludwig Meier
De-Gasperi-Str. 8
51469 Bergisch Gladbach
Deutschland

Tel.: +49(0)22028659300
Fax: +49(0)22028659301
E-Mail: info@buchweltweit.de

Registergericht: Amtsgericht Köln
Registernummer: HRA 28253

Umsatzsteuer-Identifikationsnummer: DE815259907

Wir sind zur Teilnahme an einem Streitbeilegungsverfahren vor einer Verbraucherschlichtungsstelle weder verpflichtet noch bereit.