Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology).

Bhushan, B. u. H. Fuchs

Editorial: Springer,, 2006
Condición: Usado Encuadernación de tapa dura

Vendido por Antiquariat Knacke, Berlin, Alemania

Vendedor de AbeBooks desde 28 de enero de 2015

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Precio: EUR 35,00 Convertir moneda
EUR 12,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de America Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito