Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology) (v. 3)

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2006

3540269096 / 9783540269090

Librería: Paisleyhaze Books, New Hartford, CT, Estados Unidos de AmericaPaisleyhaze Books

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Título
Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology) (v. 3)
Autor
Bhushan, B. (editor); Fuchs, H. (editor)
Editorial
Springer
Año de publicación
2006
Estado
New
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
3540269096
ISBN 13
9783540269090
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