Applied Scanning Probe Methods III: Characterization (NanoScience and Technology) (v. 3)

Bhushan, B. (editor); Fuchs, H. (editor)

ISBN 10: 3540269096 ISBN 13: 9783540269090
Editorial: Springer, 2006
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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