Applied Scanning Probe Methods II

Idioma: inglés

Editorial: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Feb 2006, 2006

3540262423 / 9783540262428

Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 23 de enero de 2017

Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 160,49

Envío por EUR 60,00 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponible

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The Nobel Prize of 1986 on Sc- ningTunnelingMicroscopysignaled a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new - strument for imaging with a p- cision suf cient to delineate single atoms. At rst there were two ¿ the Scanning Tunneling Microscope, or STM, and the Atomic Force Mic- scope, or AFM. The STM relies on electrons tunneling between tip and sample whereas the AFM depends on the force acting on the tip when it was placed near the sample. These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. The MFM will image a single magnetic bit with features as small as 10nm. With the EFM one can monitor the charge of a single electron. Prof. Paul Hansma at Santa Barbara opened the door even wider when he was able to image biological objects in aqueous environments. At this point the sluice gates were opened and a multitude of different instruments appeared. There are signi cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM. The probe microscopes do not require preparation of the sample and they operate in ambient atmosphere, whereas, the SEM must operate in a vacuum environment and the sample must be cross-sectioned to expose the proper surface. However, the SEM can record 3D image and movies, features that are not available with the scanning probes.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 468 pp. Englisch. …

N° de ref. del artículo 9783540262428

Título
Applied Scanning Probe Methods II
Autor
Harald Fuchs
Editorial
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Feb 2006
Año de publicación
2006
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
3540262423
ISBN 13
9783540262428
Peso del artículo
863 gramos
Dimensiones
241x160x31 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 23 de enero de 2017

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 60 a 60 días hábilesDe 60 a 60 días hábiles
Primer artículoEUR 60,00EUR 75,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • PayPal

Descripción de la tienda

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Especialidad

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Información empresarial del vendedor

buchversandmimpf2000

Alemania