Applied Scanning Probe Methods I

Idioma: inglés

Editorial: Springer Berlin Heidelberg Jan 2004, 2004

3540005277 / 9783540005278

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume examines the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. After laying the theoretical background of static and dynamic force microscopies, including sensor technology and tip characterization, contributions detail applications such as macro- and nanotribology, polymer surfaces, and roughness investigations. The final part on industrial research addresses special applications of scanning force nanoprobes such as atomic manipulation and surface modification, as well as single electron devices based on SPM. Scientists and engineers either using or planning to use SPM techniques willbenefit from the international perspective assembled in the book. 500 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9783540005278

Título
Applied Scanning Probe Methods I
Autor
Bharat Bhushan
Editorial
Springer Berlin Heidelberg Jan 2004
Año de publicación
2004
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
3540005277
ISBN 13
9783540005278
Peso del artículo
1002 gramos
Dimensiones
241x160x35 mm

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