Applied Logistic Regression (Wiley Series in Probability and Statistics)

Hosmer Jr., David W.; Lemeshow, Stanley; Sturdivant, Rodney X.

ISBN 10: 0470582472 ISBN 13: 9780470582473
Editorial: Wiley, 2013
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Excelente Encuadernación de tapa dura

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