Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections

Tan, Cher Ming; Gan, Zhenghao; Li, Wei; Hou, Yuejin

ISBN 10: 0857293095 ISBN 13: 9780857293091
Editorial: Springer, 2011
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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