Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

Idioma: inglés

Editorial: Springer New York Jun 2015, 2015

1489986308 / 9781489986306

Serie: Libro 57 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on modeling, simulation and analysis of analog circuit aging. First, all important nanometer CMOS physical effects resulting in circuit unreliability are reviewed. Then, transistor aging compact models for circuit simulation are discussed and several methods for efficient circuit reliability simulation are explained and compared. Ultimately, the impact of transistor aging on analog circuits is studied. Aging-resilient and aging-immune circuits are identified and the impact of technology scaling is discussed. The models and simulation techniques described in the book are intended as an aid for device engineers, circuit designers and the EDA community to understand and to mitigate the impact of aging effects on nanometer CMOS ICs. 216 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781489986306

Título
Analog IC Reliability in Nanometer CMOS
Autor
Georges Gielen
Editorial
Springer New York Jun 2015
Año de publicación
2015
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1489986308
ISBN 13
9781489986306
Peso del artículo
335 gramos
Dimensiones
235x155x12 mm
Serie
Libro 57 de 124: Analog Circuits and Signal Processing

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