Advances in X-Ray Analysis

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Okt 2013, 2013

1468486330 / 9781468486339

  • Tapa blanda
  • Nuevo
Ver todos los detalles

Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 11 de enero de 2012

Tapa blanda

Condición: Nuevo

EUR 53,49

Envío por EUR 23,00 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 2 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The original scope of the annual conference on industrial applications of x-ray analysis envisioned almost total participation by representatives from industrial laboratories_ These people were concerned with problems of an immediate nature and thus welcomed the opportunity to meet for a few days with associates from other laboratnries in order to discuss problems of a similar nature, as weH as to interchange information freely and rapidly_ Certainly, this was true during the first few years of the conference's existence. During the past few years, however, a rather subtle blending has occur red of representatives from industrial laboratories, universities, and manu facturers of x-ray equipment. Papers which deal with the fundamental as pects of some phase of x-ray research and which, in many cases, have no end or ultimate objective, are as eagerly received by the conferees as are papers which deal with a specific problem of immediate importance or a paper in which the la test equipment available is portrayed. In our opinion, this x-ray conference, while perhaps no longer slanted specificaHy toward industrial applications of x-ray techniques, does continue to serve the same purpose as a medium of interchange of the latest available information and at the same time provide an opportunity for basic researchers, applied researchers and manufacturing representatives to become acquainted with each other's problems. 360 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9781468486339

Título
Advances in X-Ray Analysis
Autor
William M. Mueller
Editorial
Springer US Okt 2013
Año de publicación
2013
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1468486330
ISBN 13
9781468486339
Peso del artículo
522 gramos
Dimensiones
229x152x20 mm

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 11 de enero de 2012

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 5 a 15 días hábilesDe 5 a 15 días hábiles
Primer artículoEUR 23,00EUR 23,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • Giro bancario
  • PayPal

Información empresarial del vendedor

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Alemania

BuchWeltWeit Inh. Ludwig Meier e.K.
Inhaber: Ludwig Meier
De-Gasperi-Str. 8
51469 Bergisch Gladbach
Deutschland

Tel.: +49(0)22028659300
Fax: +49(0)22028659301
E-Mail: info@buchweltweit.de

Registergericht: Amtsgericht Köln
Registernummer: HRA 28253

Umsatzsteuer-Identifikationsnummer: DE815259907

Wir sind zur Teilnahme an einem Streitbeilegungsverfahren vor einer Verbraucherschlichtungsstelle weder verpflichtet noch bereit.