Advances in Scanning Probe Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Mär 2000, 2000

3540667180 / 9783540667186

Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 23 de enero de 2017

Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 106,99

Envío por EUR 60,00 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponible

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -There have been many books published on scanning tunneling microscopy (STM), atomic force microscopy (AFM) and related subjects since Dr. Cerd Binnig and Dr. Heinrich Rohrer invented STM in 1982 and AFM in 1986 at IBM Research Center in Zurich, Switzerland. These two techniques, STM and AFM, now form the core of what has come to be called the 'scanning probe microscopy (SPM)' family. SPM is not just the most powerful microscope for scientists to image atoms on surfaces, but is also becoming an indispensable tool for manipulating atoms and molecules to construct man-made materials and devices. Its impact has been felt in various fields, from surface physics and chemistry to nano-mechanics, nano-electronics and medical science. Its influence will surely extend further as the years go by, beyond the reach of our present imagination, and new research applications will continue to emerge. This book, therefore, is not intended to be a comprehensive review or textbook on SPM. Its aim is to cover only a selected part of the active re search fields of SPM and related topics in which I have been directly involved over the years. These include the basic principles of STM and AFM, and their applications to fullerene film growth, SiC surface reconstructions, MBE (molecular beam epitaxy) growth of CaAs, atomic scale manipulation of Si surfaces and meso scopic work function.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 360 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9783540667186

Título
Advances in Scanning Probe Microscopy
Autor
Y. Watanabe
Editorial
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Mär 2000
Año de publicación
2000
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
3540667180
ISBN 13
9783540667186
Peso del artículo
705 gramos
Dimensiones
241x160x24 mm

buchversandmimpf2000

Emtmannsberg, BAYE, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de IberLibro desde 23 de enero de 2017

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 60 a 60 días hábilesDe 60 a 60 días hábiles
Primer artículoEUR 60,00EUR 75,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • PayPal

Descripción de la tienda

Impressum Thorsten Retsch Buchversand Mimpf2000 Oberölschnitz 16 95517 Emtmannsberg Deutschland Telefon: 09209-2023188 Email: mimpf2000@online.de USt-ID-Nr.: DE 235096871 Wir führen gebrauchte Bücher aus allen Sparten der Literatur

Especialidad

Modernes Antiquariat - Bücher von 1960 bis heute

Información empresarial del vendedor

buchversandmimpf2000

Alemania

Impressum

Gesetzliche Anbieterkennung:

Thorsten Retsch
Buchversand Mimpf2000
Oberölschnitz 16
95517 Emtmannsberg
Deutschland
Telefon: 092092023188
E-Mail: order@buchversandmimpf2000.de
USt-IdNr.: DE 235096871

Alternative Streitbeilegung:
Die Europäische Kommission stellt eine Plattform für die außergerichtliche Online-Streitbeilegung (OS-Plattform) bereit, aufrufbar unter http://ec.europa.eu/odr.