Advanced scanning electron microscopy and x-ray microanalysis.

Idioma: inglés

Editorial: NewYork, Plenum Press, 1987

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Detalles bibliográficos

Título
Advanced scanning electron microscopy and x-ray microanalysis.
Autor
Newbury, Dale E.:
Editorial
NewYork, Plenum Press
Año de publicación
1987
Estado
Gut
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
Peso del artículo
550 gramos
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