Advanced Transmission Electron Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Springer New York Jun 2018, 2018

1493982494 / 9781493982493

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This volume expands and updates the coverage in the authors' popular 1992 book, Electron Microdiffraction. As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction and convergent beam electron diffraction to all forms of advanced transmission electron microscopy. Special attention is given to electron diffraction and imaging, including high-resolution TEM and STEM imaging, and the application of these methods to crystals, their defects, and nanostructures. The authoritative text summarizes and develops most of the useful knowledge which has been gained over the years from the study of the multiple electron scattering problem, the recent development of aberration correctors and their applications to materials structure characterization, as well as the authors' extensive teaching experience in these areas. Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience is ideal for use as an advanced undergraduate or graduatelevel text in support of course materials in Materials Science, Physics or Chemistry departments. 756 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9781493982493

Título
Advanced Transmission Electron Microscopy
Autor
John C. H. Spence
Editorial
Springer New York Jun 2018
Año de publicación
2018
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
1493982494
ISBN 13
9781493982493
Peso del artículo
1283 gramos
Dimensiones
235x155x38 mm

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