Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Bosio, Alberto; Dilillo, Luigi; Girard, Patrick; Pravossoudovitch, Serge; Virazel, Arnaud

ISBN 10: 1489983147 ISBN 13: 9781489983145
Editorial: Springer, 2014
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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