Advanced Computing in Electron Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2020, 2020

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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complicate image interpretation. Image calculations can help the user to interpret and understand high resolution information in recorded electron micrographs. The book contains expanded sections on aberration correction, including a detailed discussion of higher order (multipole) aberrations and their effect on high resolution imaging, new imaging modes such as ABF (annular bright field), and the latest developments in parallel processing using GPUs (graphic processing units), as well as updated references. Beginning and experienced users at the advanced undergraduate or graduate level will find the book to be a unique and essential guide to the theory and methods of computation in electron microscopy. 368 pp. Englisch.…

N° de ref. del artículo 9783030332594

Título
Advanced Computing in Electron Microscopy
Autor
Earl J. Kirkland
Editorial
Springer International Publishing, Springer International Publishing Mär 2020
Año de publicación
2020
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
3030332594
ISBN 13
9783030332594
Edición
3ª Edición
Peso del artículo
717 gramos
Dimensiones
241x160x26 mm

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