Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

Xia, Fangzhou; Rangelow, Ivo W.; Youcef-Toumi, Kamal

ISBN 10: 3031442350 ISBN 13: 9783031442353
Editorial: Springer, 2025
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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