Accelerated Life Testing of One-Shot Devices: Data Collection and Analysis

Narayanaswamy Balakrishnan|Man Ho Ling|Hon Yiu So

ISBN 10: 1119664004 ISBN 13: 9781119664000
Editorial: John Wiley & Sons, 2021
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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