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ADV MATH & COMP TOOL METROL X: 86 (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences) - Tapa dura
Sinopsis
This volume contains original and refereed contributions from the tenth AMCTM Conference (http://www.nviim.ru/AMCTM2014) held in St. Petersburg (Russia) in September 2014 on the theme of advanced mathematical and computational tools in metrology and testing.
The themes in this volume reflect the importance of the mathematical, statistical and numerical tools and techniques in metrology and testing and, also keeping the challenge promoted by the Metre Convention, to access a mutual recognition for the measurement standards.
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Críticas
This volume, and indeed the whole series, is an important contribution to the understanding of metrology in the modern, intercontinental world. The editors are well known in their fields and come from across Europe. --Accreditation and Quality Assurance Journal
Reseña del editor
This volume contains original and refereed contributions from the tenth AMCTM Conference (www.nviim.ru/AMCTM2014) held in St. Petersburg (Russia) in September 2014 on the theme of advanced mathematical and computational tools in metrology and testing.The themes in this volume reflect the importance of the mathematical, statistical and numerical tools and techniques in metrology and testing and, also keeping the challenge promoted by the Metre Convention, to access a mutual recognition for the measurement standards.
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- EditorialWorld Scientific
- Año de publicación2015
- ISBN 10 9814678619
- ISBN 13 9789814678612
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de páginas448
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Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing X (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences): 86
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World Scientific Publishing Comp, 2015
ISBN 10: 9814678619
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ADVANCED MATHEMATICAL AND COMPUTATIONAL TOOLS IN METROLOGY AND TESTING X (Series on Advances in Mathematics for Applied Sciences, 86)
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