Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty - Tapa blanda

Krishnaswamy, Smita; Markov, Igor L.; Hayes, John P.

 
9789048196456: Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

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Sinopsis

Introduction.- Probabilistic Transfer Matrices.- Computing with Probabilistic Transfer Matrices.- Testing Logic Circuits for Probabilistic Faults.- Signtaure-based Reliability Analysis.- Design for Robustness.- Summary and Extensions.

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Editorial: Springer, 2012
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