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Integrated Circuit Test Guide(Chinese Edition)
Publicado por
Machinery Industry Press, 2021
ISBN 10: 7111683927
ISBN 13: 9787111683926
Nuevo
paperback
Librería: liu xing, Nanjing, JS, China
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paperback. Condición: New. Paperback. Pub Date: 2021-06-01 Pages: 257 Language: Chinese Publisher: Mechanical Industry Press Integrated Circuit Test Guide combines the testing principles of semiconductor integrated circuits with the actual test implementation process. and the content covers the testing process of semiconductor integrated circuits. Test principles and test examples of integrated operational amplifiers. power management chips. electrically erasable programmable read-only memory chips. microcontroller chi. Nº de ref. del artículo: NV038641
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