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Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions - Tapa blanda
Sinopsis
This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.
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Controlling the aging of power transistors
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Controlling the aging of power transistors
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Controlling the aging of power transistors: Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments. 88 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9786208939458
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Controlling the aging of power transistors : Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 88 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9786208939458
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Controlling the aging of power transistors | Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions
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Taschenbuch. Condición: Neu. Controlling the aging of power transistors | Reliability Challenge: Controlling transistor aging and failure under short-circuit conditions | Tarek Ben Salah (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2025 | Our Knowledge Publishing | EAN 9786208939458 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu. Nº de ref. del artículo: 133536863
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