Conçu pour étudiantes/étudiants, ingénier-es et praticiens, cet ouvrage articule la théorie de l'électrostatique et l'instrumentation capacitive afin de passer du modèle au dispositif. Après les fondements (calcul vectoriel, équations de Laplace/Poisson, conditions aux limites, théorème d'unicité), il traite milieux diélectriques, capacité, énergie et forces (contrainte de Maxwell, effets de bord) et leurs implications de conception. Un bloc substantiel détaille les méthodes numériques FDM/FEM/BEM: choix des symétries, maillage, critères de convergence, validation expérimentale. Côté mesures, le livre couvre LCR-mètres, ponts de Schering, techniques de garde, blindage et mise à la masse, étalonnage et incertitude, avec protocoles pas-à-pas et feuilles de calcul. Des études de cas (câble coaxial, capteurs capacitifs, interfaces tactiles, structures MOS/MEMS) montrent comment relier géométrie, permittivité et performance. Chaque chapitre propose des récipes de modélisation, des check-lists de laboratoire et des exercices corrigés pour ancrer les savoir-faire. Destiné à la formation et à l'ingénierie, l'ouvrage vise une pratique sûre et efficace des systèmes capacitifs.
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Paperback. Condición: new. Paperback. Concu pour etudiantes/etudiants, ingenier-es et praticiens, cet ouvrage articule la theorie de l'electrostatique et l'instrumentation capacitive afin de passer du modele au dispositif. Apres les fondements (calcul vectoriel, equations de Laplace/Poisson, conditions aux limites, theoreme d'unicite), il traite milieux dielectriques, capacite, energie et forces (contrainte de Maxwell, effets de bord) et leurs implications de conception. Un bloc substantiel detaille les methodes numeriques FDM/FEM/BEM: choix des symetries, maillage, criteres de convergence, validation experimentale. Cote mesures, le livre couvre LCR-metres, ponts de Schering, techniques de garde, blindage et mise a la masse, etalonnage et incertitude, avec protocoles pas-a-pas et feuilles de calcul. Des etudes de cas (cable coaxial, capteurs capacitifs, interfaces tactiles, structures MOS/MEMS) montrent comment relier geometrie, permittivite et performance. Chaque chapitre propose des recipes de modelisation, des check-lists de laboratoire et des exercices corriges pour ancrer les savoir-faire. Destine a la formation et a l'ingenierie, l'ouvrage vise une pratique sure et efficace des systemes capacitifs. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9786208482725
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Conçu pour étudiantes/étudiants, ingénier¿es et praticiens, cet ouvrage articule la théorie de l'électrostatique et l'instrumentation capacitive afin de passer du modèle au dispositif. Après les fondements (calcul vectoriel, équations de Laplace/Poisson, conditions aux limites, théorème d'unicité), il traite milieux diélectriques, capacité, énergie et forces (contrainte de Maxwell, effets de bord) et leurs implications de conception. Un bloc substantiel détaille les méthodes numériques FDM/FEM/BEM : choix des symétries, maillage, critères de convergence, validation expérimentale. Côté mesures, le livre couvre LCR-mètres, ponts de Schering, techniques de garde, blindage et mise à la masse, étalonnage et incertitude, avec protocoles pas-à-pas et feuilles de calcul. Des études de cas (câble coaxial, capteurs capacitifs, interfaces tactiles, structures MOS/MEMS) montrent comment relier géométrie, permittivité et performance. Chaque chapitre propose des ' récipes ' de modélisation, des check-lists de laboratoire et des exercices corrigés pour ancrer les savoir-faire. Destiné à la formation et à l'ingénierie, l'ouvrage vise une pratique sûre et efficace des systèmes capacitifs.VDM Verlag, Dudweiler Landstraße 99, 66123 Saarbrücken 56 pp. Französisch. Nº de ref. del artículo: 9786208482725
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Taschenbuch. Condición: Neu. Électrostatique & instrumentation capacitive: théorie et mesures | Champs, potentiel, capacité; capteurs capacitifs; LCR/ponts de Schering; modélisation FEM; protocoles et cas d'usage | Mohammed Rasheed (u. a.) | Taschenbuch | Französisch | 2025 | Éditions universitaires européennes | EAN 9786208482725 | Verantwortliche Person für die EU: SIA OmniScriptum Publishing, Brivibas Gatve 197, 1039 RIGA, LETTLAND, customerservice[at]vdm-vsg[dot]de | Anbieter: preigu. Nº de ref. del artículo: 134120121
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