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Microscopic Characterization Techniques: Scanning Electron Microscopy and Transmission Electron Microscopy - Tapa blanda

 
9786202797610: Microscopic Characterization Techniques: Scanning Electron Microscopy and Transmission Electron Microscopy

Sinopsis

Here in this book, we focus on the advanced, effective and widely used microscopic technique available for detection of morphological characterizations of materials. The principal objective is to provide a concise reading material on both practical and theoretical description of the techniques used to characterize a wide variety of materials. We discussed on the fundamental understanding, basic instrumentation, experimental strategy, analyses, and application part related to the scanning electron microscopy as well as transmission electron microscopy.

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Yelwande, Ajeet Appasaheb; Navgire, Madhukar Eknath
Publicado por LAP LAMBERT Academic Publishing, 2020
ISBN 10: 6202797614 ISBN 13: 9786202797610
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Ajeet Appasaheb Yelwande
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Here in this book, we focus on the advanced, effective and widely used microscopic technique available for detection of morphological characterizations of materials. The principal objective is to provide a concise reading material on both practical and theoretical description of the techniques used to characterize a wide variety of materials. We discussed on the fundamental understanding, basic instrumentation, experimental strategy, analyses, and application part related to the scanning electron microscopy as well as transmission electron microscopy. 68 pp. Englisch. Nº de ref. del artículo: 9786202797610

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