Resultados de la búsqueda para Testing, Tracing und Debugging bei Emedded Systems
Imagen de archivo
Testing, Tracing und Debugging bei Emedded Systems
Publicado por
Trauner Verlag + Buchservice GmbH, 2009
ISBN 10: 3854995679
ISBN 13: 9783854995678
Antiguo o usado
Tapa blanda
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar. Nº de ref. del artículo: 5056969/222
Comprar usado
EUR 24,08
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles