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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Tapa blanda

Breitenstein, Otwin; Warta, Wilhelm; Langenkamp, Martin

 
9783662083970: Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Tapa blanda
ISBN 10: 3662083973 ISBN 13: 9783662083970
Editorial: Springer, 2014

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Sinopsis

1. Introduction.- 2. Physical and Technical Basics.- 3. Experimental Technique.- 4. Theory.- 5. Measurement Strategies.- 6. Typical Applications.- 7. Summary and Outlook.- References.- A. Thermal and IR Properties of Selected Materials.- B. Digital Micrograph Scripts for FFT Deconvolution.- List of Symbols.- Abbreviations.

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Editorial
Springer
Año de publicación
2014
Idioma
Inglés
ISBN 10 
3662083973
ISBN 13 
9783662083970
Encuadernación
Paperback
Contacto del fabricante
no disponible

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