Frontiers in Optical Methods: Nano-Characterization and Coherent Control: 180 (Springer Series in Optical Sciences, 180) - Tapa dura
Libro 82 de 159: Springer Series in Optical Sciences
Sinopsis
This collection of reviews by leading Japanese researchers covers topics like ultrafast optical responses, terahertz and phonon studies, super-sensitive surface and high-pressure spectroscopy, combination of visible and x-ray photonics. Several related areas at the cutting edge of measurement technology and materials science are included. This book is partly based on well-cited review articles in the Japanese language in special volumes of the Journal of the Vacuum Society of Japan.
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This collection of reviews by leading Japanese researchers covers topics like ultrafast optical responses, terahertz and phonon studies, super-sensitive surface and high-pressure spectroscopy, combination of visible and x-ray photonics. Several related areas at the cutting edge of measurement technology and materials science are included. This book is partly based on well-cited review articles in the Japanese language in special volumes of the Journal of the Vacuum Society of Japan.
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Frontiers in Optical Methods: Nano-Characterization and Coherent Control: 180 (Springer Series in Optical Sciences, 180)
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Buch. Condición: Neu. Frontiers in Optical Methods | Nano-Characterization and Coherent Control | Ken-Ichi Shudo (u. a.) | Buch | Springer Series in Optical Sciences | xii | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642405938 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. Nº de ref. del artículo: 105688446
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This collection of reviews by leading Japanese researchers covers topics like ultrafast optical responses, terahertz and phonon studies, super-sensitive surface and high-pressure spectroscopy, combination of visible and x-ray photonics. Several related areas at the cutting edge of measurement technology and materials science are included. This book is partly based on well-cited review articles in the Japanese language in special volumes of the Journal of the Vacuum Society of Japan. Nº de ref. del artículo: 9783642405938
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