Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures - Tapa blanda

Libro 109 de 227: Springer Tracts in Modern Physics

Schubert, Mathias

 
9783540804291: Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures
Tapa blanda
ISBN 10: 3540804293 ISBN 13: 9783540804291
Editorial: Springer, 2009

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Editorial
Springer
Año de publicación
2009
Idioma
Inglés
ISBN 10 
3540804293
ISBN 13 
9783540804291
Encuadernación
Taschenbuch
Contacto del fabricante
no disponible
Persona responsable
CMN Printpool Inh. Mathis Neumann
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Friedrich-Karl-Str. 9
Hamburg
Alemania

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