Thin Film Analysis by X-Ray Scattering - Tapa blanda

Birkholz, Mario

9783527607594: Thin Film Analysis by X-Ray Scattering

Tapa blanda

ISBN 10: 3527607595 ISBN 13: 9783527607594

Editorial: John Wiley & Sons, 2006

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Detalles de la edici�n

Editorial: John Wiley & Sons
A�o de publicaci�n: 2006
Idioma: Ingl�s
ISBN 10: 3527607595
ISBN 13: 9783527607594
Encuadernaci�n: Tapa blanda
N�mero de p�ginas: 378
Contacto del fabricante: no disponible
Persona responsable: no disponible

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