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Sinopsis
A handbook, covering the field of materials science and technology, which considers both academic and industrial aspects. The detailed index makes the information in this reference text easily accessible. Every article also contains a list of symbols.
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Reseña del editor
This is the second of two volumes focusing on the principal analytical techniques for characterizing metal alloys, semiconductors, polymers, and ceramics. From the Contents: DiNardo: Scanning Tunneling Microscopy. De Batist: Mechanical Spectroscopy. Castle/Baker: Auger Electron Microscopy. Briggs: Quantitative Acoustic Microscopy. Exner: Quantitative Analysis of Microstructure. Lifshin: Electron Microprobe Analysis. Ma/Zhang/Chu/Liu: High Energy Ion Beam Analysis Techniques. Cerezo/Smith: Field Ion Microscopy and the Position Sensitive Atom Probe. Von Dreele: Neutron Diffraction. May/Williams/Guinier: Small-Angle Scattering of X-Rays and Neutrons
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Characterization of materials ; Pt. 2.
Publicado por
Weinheim, Wiley-VCH, 1994
ISBN 10: 3527282653
ISBN 13: 9783527282654
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Tapa dura
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Hardcover. Condición: Gut. 775 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. 3527282653 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550. Nº de ref. del artículo: 2341237
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Materials Science and Technology - Volume 2B: Characterization of Materials Part II :
Publicado por
Weinheim, VCH, 1994
ISBN 10: 3527282653
ISBN 13: 9783527282654
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Materials Science and Technology - Volume 2B: Characterization of Materials Part II E Lifshin
Publicado por
Weinheim, VCH, 1994
ISBN 10: 3527282653
ISBN 13: 9783527282654
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Tapa blanda
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Condición: gut. 1994. Materials Science and Technology - Volume 2B: Characterization of Materials Part II In deutscher Sprache. pages. Nº de ref. del artículo: BN448411
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