Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits - Tapa blanda

Liu, Xiao; Xu, Qiang

 
9783319005348: Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Tapa blanda
ISBN 10: 3319005340 ISBN 13: 9783319005348
Editorial: Springer, 2013

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Sinopsis

Introduction.- State of the Art on Post-Silicon Validation.- Signal Selection for Visibility Enhancement.- Multiplexed Tracing for Design Error.- Tracing for Electrical Error.- Reusing Test Access Mechanisms.- Interconnection Fabric for Flexible Tracing.- Interconnection Fabric for Systematic Tracing.- Conclusion.

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Editorial
Springer
Año de publicación
2013
Idioma
Inglés
ISBN 10 
3319005340
ISBN 13 
9783319005348
Encuadernación
Paperback
Contacto del fabricante
no disponible
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