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Sinopsis
Introduction.- The Transmission Electron Microscope.- Linear Image Approximations.- Sampling and the Fast Fourier Transform.- Calculating Images of Thin Specimens.- Calculating Images of Thick Specimens.- Some Worked Examples.- Program Details.- App. A: Atomic Potentials and Scattering Factors.- App. B: The Fourier Projection Theorem.- App. C: Bilinear Interpolation.- App. D: 3D Perspective View.
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- EditorialSpringer
- Año de publicación2020
- ISBN 10 3030332616
- ISBN 13 9783030332617
- EncuadernaciónPaperback
- IdiomaInglés
- Contacto del fabricanteno disponible
(Ningún ejemplar disponible)
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